隨著ICP-AES的流行使很多的分析人員在問購買一臺ICP-AES是否是明智之舉，還是采取原來可信賴的AAS上。現在一個新技術ICP-MS已呈現在各個實驗室，雖然價格較高，但ICP-MS具有ICP-AES的優點及比石墨爐原子吸收（GFAAS）更低的檢出限。

這篇文章簡要地論述這三種技術，并指出如何根據你的分析任務來判斷其適用性的主要標準，選擇不同的設備。

對于擁有ICP-AES技術背景的人來講，ICP-MS是一個以質譜儀作為檢測器的等離子體（ICP），而質譜學家則認為ICP-MS是一個以ICP為源的質譜儀。事實上，ICP-AES和ICP-MS的進樣部分及等離子體是及其相似的。ICP-AES測量的是光學光譜（165-800nm），ICP-MS測量的是離子質譜，提供在3-250amu范圍內每一個原子質量單位（amu）的信息，因此，ICP-MS除了元素含量測定外，還可測量同位素。

檢出限           

ICP-MS6880的檢出限給人極深刻的印象，其溶液的檢出限大部份為ppt級，石墨爐AAS的檢出限為亞ppb級

ICP-AES6800大部份元素的檢出限為1-10ppb，一些元素在潔凈的試樣中也可得到令人注目的亞ppb級的檢出限。必須指出，ICP-MS的ppt級檢出限是針對溶液中溶解物質很少的單純溶液而言的，若涉及固體中濃度的檢出限，由于ICP-MS的耐鹽量較差，ICP-MS檢出限的優點會變差多達50倍，一些普通的輕元素（如S、 Ca、 Fe 、K、 Se）在ICP-MS中有嚴重的干擾，也將影響其檢出限。

干擾

以上三種技術呈現了不同類型及復雜的干擾問題，為此，我們對每個技術分別予以討論。

ICP-MS的干擾

1． 質譜干擾

ICP-MS中質譜的干擾（同量異位素干擾）是預知的，而且其數量少于300個，分辯率為0.8amu的質譜儀不能將它們分辯開，例如58Ni 對58Fe、 40Ar對40Ca、 40Ar16O對56Fe或40Ar-Ar對80Se的干擾（質譜疊加）。元素校正方程式（與ICP-AES中干擾譜線校正相同的原理）可用來進行校正，選擇性地選用一些低自然豐度的同位素、采用“冷等離子體炬焰屏蔽技術"或“碰撞池技術"可有效地降低干擾影響。

2． 基體酸干擾

必須指出，HCl 、HClO4、H3PO4和H2SO4將引起相當大的質譜干擾。Cl+ 、P+ 、S+離子將與其他基體元素Ar+ 、O+、H+結合生成多原子，例如35Cl 40Ar對75As 、35Cl

16O對51V的疊加干擾。因此在ICP-MS的許多分析中避免使用HCl 、HClO4 、H3PO4和H2SO4是至關重要的，但這是不可能的。克服這個問題的方法有：“碰撞池技術"、在試樣導入ICP之前使用色譜（微栓）分離、電熱蒸發（ETV）技術等，另外一個比較昂貴的選擇是使用高分辯率的扇形磁場的ICP-MS，它具有分辯小于0.01amu的能力，可以清除許多質譜的干擾。

ICP-MS分析用的試液通常用硝酸來配制。

3．雙電荷離子干擾

雙電荷離子產生的質譜干擾是單電荷離子M/Z的一半，例如138Ba2+對69Ga+，或208Pb2+對104Ru+。這類干擾是比較少的，而且可以在進行分析前將系統最佳化而有效地消除。

4． 基體效應

試液與標準溶液粘度的差別將改變各個溶液產生氣溶膠的效率，采用基體匹配法或內標法可有效地消除。

5． 電離干擾

電離干擾是由于試樣中含有高濃度的第I族和第II族元素而產生的，采用基體匹配、稀釋試樣、標準加入法、同位素稀釋法、萃取或用色譜分離等措施來解決是有效的。

6．空間電荷效應

空間電荷效應主要發生在截取錐的后面，在此處的凈電荷密度明顯的偏離了零。高的離子密度導致離子束中的離子之間的相互作用，形成重離子存在時首先損失掉輕離子，例如Pb+對Li+3。基體匹配或仔細在被測物質的質量范圍內選用內標有助于補嘗這個影響，但這在實際應用是有困難的。同位素稀釋法雖有效，但費用高，簡單而*的方法是稀釋樣品。

ICP-AES干擾

1．光譜干擾

ICP-AES的光譜干擾其數量很大而較難解決，有記錄的ICP-AES的光譜譜線有50000多條，而且基體能引起相當多的問題。因此，對某些樣品例如鋼鐵、化工產品及巖石的分析必須使用高分辯率的光譜儀。廣泛應用于固定通道ICP-AES中的干擾元素校正能得到有限度的成功。ICP-AES中的背景較高，需離線背景校正，應用動態背景校正對增進準確度是很有效的。各種分子粒子（如OH）的譜峰或譜帶對某些低含量的被測元素會引起一些分析問題，影響其在實際樣品中檢出限。

在ICP-MS中的背景是相當低的，典型的是小于5 C/S（計數/秒），這就是ICP-MS具有JI好的檢出限的一個主要理由。

2．基體效應

與ICP-MS一樣，ICP-AES可以應用內標來解決例如霧化室效應、試樣與標準溶液之間粘度差異所帶來的基體效應。

3．電離干擾

仔細選用每個元素的分析條件或加入電離緩衡劑（如過量的I族元素）可以減少易電離元素的影響。

GFAAS干擾

1．光譜干擾

使用氘燈背景校正的GFAAS有少許光譜干擾，但使用Zeeman 背景校正的GFAAS能去除這些干擾。

2．背景干擾

在原子化過程中，針對不同的基體，應仔細設定灰化步聚的條件以減少背景信號。采用基體改進劑有助于增加可以容許的灰化溫度。在很多GFAAS應用中，與氘燈扣背景相比，Zeeman扣背景可得到更好的準確度。

3．氣相干擾

這是由于被測物質的原子蒸汽進入一個較冷的氣體環境而形成的。現在采用等溫石墨管設計和平臺技術，試樣被原子化后進入一個熱的惰性氣體環境，可有效減少這種干擾。

4．基體效應

基體效應是被測物質在石墨管上不同的殘留而生成的，它取決于樣品的種類，應用基體改性劑和熱注射能十分有效地減少這些影響。

容易使用

在日常工作中，從自動化來講，ICP-AES是ZUI成熟的，可由技術不熟練的人員來應用ICP-AES專家制定的方法進行工作。ICP-MS6880的操作直到現在仍較為復雜，自1993年以來，盡管在計算機控制和智能化軟件方面有很大的進步，但在常規分析前仍需由技術人員進行精密調整，ICP-MS6880的方法研究也是很復雜及耗時的工作。GFAAS的常規工作雖然是比較容易的，但制定方法仍需要相當熟練的技術

試樣中的總固體溶解量TDS

在常規工作中，ICP-AES可分析10%TDS的溶液，甚至可以高至30%的鹽溶液。在短時期內ICP-MS6880可分析0.5%的溶液，但大部分分析人員樂于采用最多0.2%TDS的溶液。當原始樣品是固體時，與ICP-AES，GFAAS相比，ICP-MS需要更高倍數的稀釋，其折算到原始固體樣品中的檢出限顯示不出很大優勢的現象也就不令人驚奇了。

線性動態范圍LDR

ICP-MS具有超過105的LDR，各種方法可使其LDR開展至108，但不管如何，對ICP-MS來說：高基體濃度會導致許多問題，而這些問題的最好解決方案是稀釋，正由于這個原因，ICP-MS應用的主要領域在痕量/超痕量分析。

GFAAS的LDR限制在102-103，如選用次靈敏線可進行高一些濃度的分析。

ICP-AES具有105以上的LDR且抗鹽份能力強，可進行痕量及主量元素的測定，ICP-AES可測定的濃度高達百分含量，因此，ICP-AES外加ICP-MS，或GFAAS可以很好地滿足實驗室的需要。

精密度

ICP-MS6880的短期精密度一般是1-3% RSD，這是應用多內標法在常規工作中得到的。長期精密度為小于5%RSD。使用同位素稀釋法可以得到很好的準確度和精密度，但這個方法的費用對常規分析來講是太貴了。

ICP-AES的短期精密度一般為0.3-2%RSD，幾個小時的長期精密度小于3%RSD。

GFAAS-1800的短期精密度為0.5-5%RSD，長期精密度的因素不在于時間而視石墨管的使用次數而定。

樣品分析能力

ICP-MS6880有驚人的能力來分析大量測定痕量元素的樣品，典型的分析時間為每個樣品小于5分鐘，在某些分析情況下只需2分鐘。實驗室認為ICP-MS的主要優點即是其分析能力。

ICP-AES6800的分析速度取決于是采用全譜直讀型還是單道掃描型，每個樣品所需的時間為2或6分鐘，全譜直讀型較快，一般為2分鐘測定一個樣品。

GFAAS的分析速度為每個樣品中每個元素需3-4分鐘，晚上可以自動工作，這樣保證對樣品的分析能力。

根據溶液的濃度舉例如下，以參考：

1． 每個樣品測定1-3個元素，元素濃度為亞或低于ppb級，如果被測元素要求能滿足的情況下，GFAAS是最合適的。

2． 每個樣品5-20個元素，含量為亞ppm至%，ICP-AES是最合適的。

3． 每個樣品需測4個以上的元素，在亞ppb及ppb含量，而且樣品的量也相當大，ICP-MS是較合適的。

無人控制操作

ICP-MS，ICP-AES，和GFAAS，由于現代化的自動化設計以及使用惰性氣體的安全性，可以整夜無人看管工作。

為了高的分析生產，整夜開機工作是可取的。

運行的費用

ICP-MS6880開機工作的費用要高于ICP-AES，因為ICP-MS的一些部件有一定的使用壽命而且需要更換，這些部件包括了渦輪分子泵、取樣錐和截取錐以及檢測器。對于ICP-MS和ICP-AES來講，霧化器與炬管的壽命是相同的。如果實驗室選用了ICP-AES來取代ICP-MS，那么實驗室最好能配備GFAAS。GFAAS應計算其石墨管的費用。在上述三種技術中Ar氣的費用是一筆相當的預算，ICP技術Ar費用遠高于GFAAS。

基本費用

這是很難于限定的一個項目，因為費用是根據自動化程度、附件與供應商而定的。大概的估計ICP-AES是GFAAS的兩倍，而ICP-MS 是ICP-AES的兩倍。必須注意到附件的配置將打亂費用的估計。另外必須考慮到超痕量分析需要一個干凈的實驗室和超純的化學試劑，這些的費用不便宜。

附件

由于是快速掃描測定方式，ICP-MS能對多元素模式中的瞬間信號進行測量，這就為大量附件打開了出路，電熱蒸法、激光消蝕、輝光放電及火花消蝕可以免除樣品的溶解過程。有些附件可以將樣品中的基體物質進行分離或進行預富集，例如：氫化法、色譜（高壓液相HPLC，離子色譜，微柱）等技術。

用色譜來分離的好處在ICP-MS中得到*的實現，它適合用于環保，毒理學，藥品及食品中低濃度的被測物質。

雖然ICP-AES也能采用上述的某些附件，但由于這些附件的價格及有限的好處，因此，很少看到它們在ICP-AES的常規分析中應用。

對購買哪一種儀器提出建議是困難的，但根據你現在及將來工作的需要，回答列表1中的問題，將有助于你作出決定.ICP的優點是多元素同時測定，優勢在于效率。而原子吸收的優點在于石墨爐的檢出限低。

ICP-MS6880具有非常好的檢出限和線性范圍，可多元素同時測定，但成本高；AAS-1800操作簡單，分析方法成熟，但一個元素一個等，影響分析速度；ICP-AES的檢出限可以說是介于ICP-MS和AAS之間，可進行多元素測定，但成本也比較高。我認為從使用者的角度來看，最主要的是根據自己的分析目的和實驗室的規模及人員素質情況選擇適合自己用的儀器，而不是說越高檔就越好。比如說，工廠里面的中控實驗室，如果要分析0.0010%到0.5%的銅、鉀、錳等這些元素，那我覺得買一臺火焰原子吸收就足夠了，如果也買一臺ICP-MS，就大材小用了。而有些科研單位、地質勘探實驗室，ICP-MS是必需的。

可以看出這些技術是相互補充的，沒有一種技術能滿足所有的分析要求，只有某一種技術稍優于另一種技術的地方。下表是AAS-1800、ICP-AES6800、ICP-MS6880三種技術的分析性能的簡單比較：

表4· ICP-MS、ICP-AES與AAS分析性能的比較

原子吸收光譜法（AAS-1800）

原子吸收光譜法是依據自由基態原子對特征輻射光的共振吸收，通過測量輻射光的減弱程度，而求出樣品中被測元素的含量。由于本法的靈敏度高，分析速度快，儀器組成簡單，操作方便，特別適用于微量分析和痕量分析，因而獲得廣泛的應用，在我國實驗室普遍使用。

大多數情況下，原子吸收分析過程如下：1、將樣品制成溶液（空白）；2、制備一系列已知濃度的分析元素的校正溶液（標樣）；3、依次測出空白及標樣的相應值；4、依據上述相應值繪出校正曲線；5、測出未知樣品的相應值；6、依據校正曲線及未知樣品的相應值得出樣品的濃度值。

現在由于計算機技術、化學計量學的發展和多種新型元器件的出現，使原子吸收光譜儀的精密度、準確度和自動化程度大大提高。用微處理機控制的原子吸收光譜儀，簡化了操作程序，節約了分析時間。現在已研制出氣相色譜—原子吸收光譜（GC-AAS）的聯用儀器，進一步拓展了原子吸收光譜法的應用領域。

連續光源原子吸收光譜儀可同時順序測定多個元素。

采用特制的高聚焦短弧氙燈作連續光源，該燈是一個氣體放電光源，燈內充有高壓氙氣，在高頻電壓激發下形成高聚焦弧光放電，輻射出從紫外線到近紅外的強連續光譜。功率為300w，能量比一般氙燈高10～100倍，發光點只有200μm，發光點溫度10000K。這樣，采用一個連續光源即可取代所有空心陰極燈，一只氙燈即可滿足全波長（189～900nm）所有元素的原子吸收測定需求，并可以選擇任何一條譜線進行分析。采用石英棱鏡和高分辨率的大面積中階梯光柵組成雙單色器以及高性能CCD線陣檢測器，使儀器能同時測定特征吸收和背景吸收，得到時間-波長-信號三維信息，所有背景信號同時扣除，不用傳統背景校正方法和附加裝置。能同時順序快速分析10～20個元素，線性范圍和動態范圍寬，檢出限優于銳線光源AAS。

原子熒光法（AFS-680）

原子熒光光譜法是通過測量待測元素的原子蒸氣在特定頻率輻射能激發下所產生的熒光發射強度，以此來測定待測元素含量的方法。

原子熒光光譜法雖是一種發射光譜法，但它和原子吸收光譜法密切相關，兼有原子發射和原子吸收兩種分析方法的優點，又克服了兩種方法的不足。原子熒光光譜具有發射譜線簡單，靈敏度高于原子吸收光譜法，線性范圍較寬，干擾較少的特點，能夠進行多元素同時測定。原子熒光光譜儀可用于分析汞、砷、銻、鉍、硒、碲、鉛、錫、鍺、鎘、鋅等11種元素。現已廣泛應用于環境監測、醫藥、地質、農業、飲用水等領域。在國標中，食品中砷、汞等元素的測定標準中已將原子熒光光譜法定為第一法。